SATA第二代物理层全自动一致性测试套件问市

泰克公司日前宣布，推出新的TekExpress™一致性自动测试平台和新的TekExpress SATA自动一致性测试软件。TekExpress SATA在TekExpress平台上运行，利用经过认证的泰克串行数据高性能仪器套件，对接收机、发射机和互连百分之百地自动执行SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性测试。TekExpress一致性自动测试平台是为单键自动测试高速串行标准开发的，TekExpress平台基于National Instruments的TestStand之上，后者作为序列控制引擎使用。 TekExpress SATA使用运行Windows XP的计算机就可 进行控制，可以有效执行SATA-IO工作组认证的实现方法(MOI)要求的153项SATA Gen-2测试。TekExpress SATA软件协调仪器设置和控制序列，为全部4个SATA-IO批准的实现方法（MOI）提供完整的认证测试结果，所需总测试时间不到3个小时，使一致性测试时间降低了约70%，为设计人员节约了宝贵的SATA设计验证时间。

本文引用地址： 第二代串行数据总线结构，包括SATA Gen-2，提供的吞吐量比几年前高出了一个量级。数据速率性能的加速，大大提高了设计工作的挑战性，增加了设计的复杂性，从而可能会阻碍产品开发周期，提高开发成本。因此，工程师们需要强大的测试工具和软件，实现更高的性能、更全面的分析及更高的测试效率。泰克新推出的TekExpress SATA自动一致性测试套件可以实现无人值守SATA Gen-1和SATA Gen-2一致性测试，帮助客户简化测试操作，协助他们迅速向市场推出新产品。

TekExpress SATA一致性测试模块分成“主机/设备”模块和“电缆”模块。前者要求六个模块，后者要求一个模块。对于主机/设备，自动测试模块包括：物理层(PHY)；发射机信令组(TSG)；带外(OOB)；接收机信令组(RSG)；接收机余量(RMT)；发送和接收(Tx/Rx)。对于电缆，有一个额外的电缆信号完整性(SI)模块。可以从任何Windows XP计算机上执行SATA MOI。

在使用传统测试方法时，客户一般需要8个小时以上的时间，循环执行要求的SATA Gen-2一致性测试，这是一个特别耗时的过程，如果遇到一个错误，就必需重新执行测试。通过使用TekExpress SATA，用户不需要干预就可以执行整个SATA Gen-2一致性测试，只需几个小时就可以提供完整的测试结果。

TekExpress SATA扩大了泰克通过高性能仪器家族为SATA Gen-2的开发和一致性测试提供的支持力度。泰克提供了独一无二的业内最杰出的仪器、超高性能以及产品自动化功能，在进行各种特定标准的应用时，能够把客户的工作效率提升到新的水平，满足了当前迅速发展的串行标准市场预期。

TekExpress SATA一致性测试要求的设备包括高带宽实时示波器(DSA70000系列数字串行分析仪)、高速串行信号发生器(AWG7102任意波形发生器)和高带宽采样示波器(DSA8200系列数字串行分析仪)。泰克DSA示波器和AWG信号发生器为测试各代SATA设备提供了所需的性能，包括规划中的预计运行速率将达到6 Gb/sec的SATA Gen-3规范，。这些新一代仪器和应用软件解决方案是泰克为高速串行数据测试提供的完善的全新测试方案的一部分。

NI TestStand是随时可以投入运行的测试管理环境，简化了测试和验证系统的自动操作功能。TestStand与TekExpress相结合，可以开发、管理和执行SATA Gen-2一致性测试以外的其它测试序列。

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